Głowica do pomiarów fotometrycznych

Z przyjemnością informujemy, że 11 sierpnia 2023 r. Urząd Patentowy Rzeczypospolitej Polskiej wydał decyzję o udzieleniu Politechnice Białostockiej patentu na wynalazek pt. „Układ do pomiaru parametrów natężeniowych promieniowania optycznego” (P.434998). Autorami wynalazku są dr hab. inż. Irena Fryc, prof. PB oraz dr inż. Piotr Jakubowski.

Przedmiotem wynalazku jest rozwiązanie techniczne przystosowane do pomiarów promieniowania cyrkadialnego. W ramach prowadzonych prac została opracowana nowa, innowacyjna konstrukcja układu głowicy pomiarowej z użyciem detektora szerokopasmowego. Zaproponowana głowica zawiera specjalny element kształtujący wiązkę mierzonego promieniowania, w celu zachowania proporcjonalności odpowiedzi elementu korekcji przestrzennej do sygnału korektora przestrzennego wiązki. Opracowane rozwiązanie techniczne zostało zweryfikowane eksperymentalnie. Opatentowany układ pomiarowy zapewnia ograniczenie błędów pomiarowych przez zmniejszenie wskaźnika niedopasowania widmowego.

Wskazany patent powstał w trakcie prac nad tematem pracy doktorskiej dr inż. Piotra Jakubowskiego pt. Metrologia promieniowania czynnego cyrkadialnie. Promotorem rozprawy doktorskiej była dr hab. inż. Irena Fryc, prof. PB, pracownik Katedry Fotoniki, Elektroniki i Techniki Świetlnej. Dr inż. Piotr Jakubowski uzyskał tytuł doktora nauk inżynieryjno-technicznych w dyscyplinie automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne, nadany przez Senat Politechniki Białostockiej w dniu 23 marca 2023 r.

Gratulujemy sukcesu i życzymy kolejnych osiągnięć.