Katedra Fotoniki, Elektroniki i Techniki Świetlnej

Zastosowanie podpróbkowania do identyfikacji układów nieliniowych w obecności zakłóceń

11.2015 10

dr inż. Adam Nikołajew

Za­pro­po­no­wa­no me­to­dę po­mia­ru cha­rak­te­ry­sty­ki sta­tycz­nej ukła­du nie­li­nio­we­go wy­ko­rzy­stu­ją­cą pod­prób­ko­wa­nie Σ. Prze­pro­wa­dzo­no ana­li­zę błę­dów po­mia­ro­wych przy uwzględ­nie­niu wahań czę­sto­tli­wo­ści prób­ko­wa­nia i ge­ne­ra­to­ra sy­gna­łu wej­ścio­we­go. Do­ko­na­no oceny wpły­wu ad­dy­tyw­ne­go szumu o roz­kła­dzie Gaus­sa na do­kład­ność po­mia­ru cha­rak­te­ry­sty­ki ukła­du. Okre­ślo­no za­kres za­sto­so­wa­nia za­pro­po­no­wa­nej me­to­dy w za­leż­no­ści od za­ło­żo­nej do­kład­no­ści po­mia­ru.


× W ramach naszego serwisu www stosujemy pliki cookies zapisywane na urządzeniu użytkownika w celu dostosowania zachowania serwisu do indywidualnych preferencji użytkownika oraz w celach statystycznych.
Użytkownik ma możliwość samodzielnej zmiany ustawień dotyczących cookies w swojej przeglądarce internetowej.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce Prywatności
Korzystając ze strony wyrażają Państwo zgodę na używanie plików cookies, zgodnie z ustawieniami przeglądarki.
Akceptuję Politykę prywatności i wykorzystania plików cookies w serwisie.