Katedra Fotoniki, Elektroniki i Techniki Świetlnej

Za­sto­so­wa­nie pod­prób­ko­wa­nia do iden­ty­fi­ka­cji i po­mia­rów wa­hań czę­sto­tli­wo­ści sy­gna­łów okre­so­wy­ch

11.2017 14

dr inż. Adam Nikołajew

Za­pro­po­no­wa­no me­to­dę po­mia­ru od­chył­ki czę­sto­tli­wo­ści sy­gna­łu okre­so­we­go od czę­sto­tli­wo­ści wzor­co­wej wy­ko­rzy­stu­ją­cą pod­prób­ko­wa­nie Σ oraz pod­prób­ko­wa­nie Σ-Δ. Przed­sta­wio­no al­go­rytm prze­twa­rza­nia sy­gna­łów, wy­ko­rzy­stu­ją­cy fil­try NOI. Prze­pro­wa­dzo­no ana­li­zę sku­tecz­no­ści me­to­dy przy uwzględ­nie­niu wa­hań czę­sto­tli­wo­ści prób­ko­wa­nia. Do­ko­na­no oce­ny wpły­wu ad­dy­tyw­ne­go szu­mu o roz­kła­dzie Gaus­sa na do­kład­no­ść po­mia­ru. Okre­ślo­no za­kres za­sto­so­wa­nia za­pro­po­no­wa­nej me­to­dy w za­leż­no­ści od za­ło­żo­nej do­kład­no­ści po­mia­ru.


× W ramach naszego serwisu www stosujemy pliki cookies zapisywane na urządzeniu użytkownika w celu dostosowania zachowania serwisu do indywidualnych preferencji użytkownika oraz w celach statystycznych.
Użytkownik ma możliwość samodzielnej zmiany ustawień dotyczących cookies w swojej przeglądarce internetowej.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce Prywatności
Korzystając ze strony wyrażają Państwo zgodę na używanie plików cookies, zgodnie z ustawieniami przeglądarki.
Akceptuję Politykę prywatności i wykorzystania plików cookies w serwisie.