Katedra Fotoniki, Elektroniki i Techniki Świetlnej

Ultra-szerokopasmowa emisja w szkłach i światłowodach wielordzeniowych w zakresie bliskiej podczerwieni

01.2024 17

prof. dr hab. inż. Jan Dorosz; prof. dr hab. inż. Marcin Kochanowicz; dr hab. inż. Piotr Miluski, prof. PB; mgr inż. Jakub Markiewicz (doktorant)

WE-306, 10:15

Aktywne światłowody specjalne o emisji w zakresie bliskiej podczerwieni stanowią atrakcyjny obszar badań z racji na swoje szerokie zastosowanie między innymi w medycynie (OCT wysokiej rozdzielczości), telekomunikacji światłowodowej (II, III i IV okno), systemach metrologicznych i czujnikach gazów. Aktualnie dostępne komercyjnie źródła ASE charakteryzują się wąską emisją w paśmie 3 dB, natomiast źródła impulsowe takie jak oscylatory parametryczne lub źródła supercontiuum wymagają drogich laserów nanosekundowych i femtosekundowych.

class=”std”>W referacie przedstawione zostaną badania nad szkłami i światłowodami domieszkowanymi jonami Ni/Cr/Bi i ziemiami rzadkimi charakteryzującymi się emisją w zakresie bliskiej podczerwieni. Pokazana zostanie metoda profilowania widma emisji w światłowodach polegająca na zmianie ilości rdzeni i ich położenia. Zaobserwowano, że zwiększenie ilości rdzeni wpływa znacząco na moc sygnału wyjściowego i pozwala na uzyskanie szerszego widma emisji w paśmie 3 dB i 10 dB, a co więcej taka metoda profilowania widma emisji umożliwia zmniejszenie wpływu tłumienia na sygnał wyjściowy z racji większej ilości materiału aktywnego na metr włókna.


× W ramach naszego serwisu www stosujemy pliki cookies zapisywane na urządzeniu użytkownika w celu dostosowania zachowania serwisu do indywidualnych preferencji użytkownika oraz w celach statystycznych.
Użytkownik ma możliwość samodzielnej zmiany ustawień dotyczących cookies w swojej przeglądarce internetowej.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce Prywatności
Korzystając ze strony wyrażają Państwo zgodę na używanie plików cookies, zgodnie z ustawieniami przeglądarki.
Akceptuję Politykę prywatności i wykorzystania plików cookies w serwisie.