Katedra Fotoniki, Elektroniki i Techniki Świetlnej

Moja wizja nauczania miernictwa elektronicznego

06.2012 12

dr inż. Wojciech Kowalski

W ra­mach se­mi­na­rium autor po­dzie­li się do­świad­cze­nia­mi zdo­by­ty­mi w cią­gu wie­lo­let­niej pracy dy­dak­tycz­nej. Za­sad­ni­cze wnio­ski przed­sta­wia­ją się na­stę­pu­ją­co: w kon­struk­cji elek­tro­nicz­nej apa­ra­tu­ry po­mia­ro­wej pa­nu­je obec­nie ten­den­cja okre­śla­na jako „con­nect and view”. Autor twier­dzi sta­now­czo i uza­sad­nia to na przy­kła­dach, że współ­cze­sny in­ży­nier, a zwłasz­cza ba­dacz, musi znać szcze­gó­ło­wo al­go­rytm po­mia­ro­wy re­ali­zo­wa­ny przez przy­rząd i oce­niać wia­ry­god­ność uzy­ska­nych wy­ni­ków po­mia­ro­wych. Ko­lej­ne pro­ble­my to: brak wy­daw­nictw aka­de­mic­kich od­po­wia­da­ją­cych wy­mo­gom no­wo­cze­sne­go sprzę­tu po­mia­ro­we­go, klu­czo­wa rola sca­lo­nych prze­twor­ni­ków po­mia­ro­wych oraz ukła­dów elek­tro­ni­ki pro­fe­sjo­nal­nej w kon­struk­cji EAP oraz ko­niecz­ność in­te­gro­wa­nia tych za­gad­nień w ra­mach oma­wia­ne­go przed­mio­tu.


× W ramach naszego serwisu www stosujemy pliki cookies zapisywane na urządzeniu użytkownika w celu dostosowania zachowania serwisu do indywidualnych preferencji użytkownika oraz w celach statystycznych.
Użytkownik ma możliwość samodzielnej zmiany ustawień dotyczących cookies w swojej przeglądarce internetowej.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce Prywatności
Korzystając ze strony wyrażają Państwo zgodę na używanie plików cookies, zgodnie z ustawieniami przeglądarki.
Akceptuję Politykę prywatności i wykorzystania plików cookies w serwisie.