W ramach seminarium autor podzieli się doświadczeniami zdobytymi w ciągu wieloletniej pracy dydaktycznej. Zasadnicze wnioski przedstawiają się następująco: w konstrukcji elektronicznej aparatury pomiarowej panuje obecnie tendencja określana jako „connect and view”. Autor twierdzi stanowczo i uzasadnia to na przykładach, że współczesny inżynier, a zwłaszcza badacz, musi znać szczegółowo algorytm pomiarowy realizowany przez przyrząd i oceniać wiarygodność uzyskanych wyników pomiarowych. Kolejne problemy to: brak wydawnictw akademickich odpowiadających wymogom nowoczesnego sprzętu pomiarowego, kluczowa rola scalonych przetworników pomiarowych oraz układów elektroniki profesjonalnej w konstrukcji EAP oraz konieczność integrowania tych zagadnień w ramach omawianego przedmiotu.