Katedra Fotoniki, Elektroniki i Techniki Świetlnej

Me­to­dy­ka wy­bra­nych te­stów od­por­no­ści urzą­dzeń na zmia­ny na­pię­cia zgod­nie z nor­ma­mi serii IEC/EN 61000

01.2017 10

dr inż. Adam Nikołajew

Zo­sta­ną przed­sta­wio­ne wy­ma­ga­nia, ukła­dy po­mia­ro­we oraz me­to­dy­ka po­mia­rów, sto­so­wa­ne pod­czas te­stów od­por­no­ści urzą­dzeń na zmia­ny na­pię­cia w na­stę­pu­ją­cych przy­pad­kach:

  1. Zmia­ny i za­ni­ki na­pię­cia za­si­la­ją­ce­go urzą­dzeń sta­ło­prą­do­wych na pod­sta­wie norm: IEC/EN 61000-3, IEC/EN 61000-17 i IEC/EN 61000-29.
  2. Obec­ność har­mo­nicz­nych zgod­nie z nor­ma­mi IEC/EN 61000-3 i IEC/EN 61000-13.

× W ramach naszego serwisu www stosujemy pliki cookies zapisywane na urządzeniu użytkownika w celu dostosowania zachowania serwisu do indywidualnych preferencji użytkownika oraz w celach statystycznych.
Użytkownik ma możliwość samodzielnej zmiany ustawień dotyczących cookies w swojej przeglądarce internetowej.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce Prywatności
Korzystając ze strony wyrażają Państwo zgodę na używanie plików cookies, zgodnie z ustawieniami przeglądarki.
Akceptuję Politykę prywatności i wykorzystania plików cookies w serwisie.