Katedra Fotoniki, Elektroniki i Techniki Świetlnej

Analiza numeryczna profilu refrakcyjnego światłowodu do zastosowań w laserach pracujących w paśmie 1,7-2,1 µm

01.2025 15

prof. dr hab. inż. Jan Dorosz; prof. dr hab. inż. Marcin Kochanowicz; dr hab. inż. Piotr Miluski, prof. PB; mgr inż. Jakub Markiewicz

WE-306, 10:15

Większość laserów generuje wiązki o profilu gaussowskim, ale w niektórych przypadkach korzystniejsze może być zastosowanie profilu o innym rozkładzie natężenia. Charakterystyczną cechą wiązek gaussowskich jest to, że ich natężenie maleje symetrycznie wraz ze zwiększaniem odległości od centrum przekroju wiązki. Z kolei wiązki typu flat-top w idealnym przypadku utrzymują stałe natężenie na całej powierzchni przekroju . Stały profil natężenia jest szczególnie przydatny w obróbce materiałów. Lasery typu flat-top zapewniają bardziej przewidywalne i dokładniejsze rezultaty, jak na przykład ostrzejsze krawędzie i czystsze cięcia, choć wymagają bardziej zaawansowanego sprzętu i wyższych nakładów finansowych w porównaniu do laserów z wiązką o profilu gaussowskim.

W referacie zostanie przedstawiona analiza numeryczna profili refrakcyjnych światłowodów do zastosowań w laserach typu flat-top pracujących w paśmie 1,7-2,1µm. Przedstawiony zostanie wpływ konstrukcji światłowodu na profil wiązki we wspomnianym wcześniej paśmie, a uzyskane rezultaty porównane do wyznaczonych przez normy ISO 13694:2000 parametrów charakteryzujących wiązki typu flat-top.


× W ramach naszego serwisu www stosujemy pliki cookies zapisywane na urządzeniu użytkownika w celu dostosowania zachowania serwisu do indywidualnych preferencji użytkownika oraz w celach statystycznych.
Użytkownik ma możliwość samodzielnej zmiany ustawień dotyczących cookies w swojej przeglądarce internetowej.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce Prywatności
Korzystając ze strony wyrażają Państwo zgodę na używanie plików cookies, zgodnie z ustawieniami przeglądarki.
Akceptuję Politykę prywatności i wykorzystania plików cookies w serwisie.