Katedra Elektrotechniki, Energoelektroniki i Elektroenergetyki

Błędy korekcji widmowej kamery z matrycą CCD zastosowanej do pomiaru rozkładu luminancji

12.2023 13

dr inż. Eugeniusz Czech

Aula 3, 10:15

Wygodną i często stosowaną metodą korekcji widmowej pomiarowej matrycy CCD stosowanej do pomiarów powierzchniowych rozkładów luminancji, jest umieszczenie przed obiektywem współpracującym z tą matrycą, zestawu filtrów absorpcyjnych, korygujących widmowo tę matrycę do krzywej czułości ludzkiego oka. Jednakże w takim przypadku, dokładność pomiarów zależy między innymi od kąta widzenia stosowanego obiektywu. Z tego powodu, wskazane jest zoptymalizowanie charakterystyki widmowej użytego filtru w celu minimalizacji błędów korekcji widmowej celem minimalizacji błędów na całej powierzchni pomiarowej. Celem referatu jest zaprezentowanie wyników optymalizacji charakterystyk widmowych zestawu filtrów absorpcyjnych, korygujących widmowo pomiarową matrycę CCD do krzywej czułości ludzkiego oka, umożliwiającej minimalizację błędów korekcji widmowej na całej powierzchni pomiarowej z uwzględnieniem możliwości praktycznego ich wykonania za pomocą dostępnych na rynku materiałów (szkieł).


× W ramach naszego serwisu www stosujemy pliki cookies zapisywane na urządzeniu użytkownika w celu dostosowania zachowania serwisu do indywidualnych preferencji użytkownika oraz w celach statystycznych.
Użytkownik ma możliwość samodzielnej zmiany ustawień dotyczących cookies w swojej przeglądarce internetowej.
Więcej informacji można znaleźć w Polityce Prywatności
Korzystając ze strony wyrażają Państwo zgodę na używanie plików cookies, zgodnie z ustawieniami przeglądarki.
Akceptuję Politykę prywatności i wykorzystania plików cookies w serwisie.